Тестеры аналоговых микросхем предназначены для проведения измерений статических и динамических параметров операционных усилителей, компараторов с возможностью подключения к зонду и термокамере.

Функциональные характеристики:

• Коэффициент усиления напряжения в диапазоне от 1 до 5*103 В/мВ
• Напряжение смещения нуля в диапазоне от ±1 мкВ до ±10 мВ
• Входные токи в диапазоне от ±10 нА до ±100 мкА
• Коэффициент ослабления синфазных входных напряжений в диапазоне от 20 до 130 дБ
• Скорость нарастания выходного напряжения до 5000 В/мкс
• Амплитудно-частотные характеристики в диапазоне до 3 ГГц

Тестеры цифровых микросхем предназначены для комплексной автоматизированной проверки параметров микросхем большой и сверхбольшой интеграции, а также микросхем памяти при испытаниях на входном контроле. Тестер предназначен для контроля микропроцессоров, запоминающих устройств, ASICs, ПЛИС и т.д. Число сигнальных выводов варьируется в зависимости от поставленной задачи.

Функциональные характеристики:

• Объем тестов до 64 МБ
• Частота функционирования до 200 МГц

Тестеры смешанных микросхем предназначены для функционального и параметрического контроля статических и динамических параметров аналого-цифровых и цифро-аналоговых микросхем.

Функциональные характеристики:

• Микросхемы с разрядностью до 24 бит
• Микросхемы с частотой оцифровки до 1 ГГц
• Динамический диапазон аналоговых сигналов до 118 dBFS
• Поддержка TTL, LVTTL и LVDS стандартов